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Juni 2007

Wir freuen uns Ihnen im Rahmen unseres halbjährlichen Newsletters eine Reihe neuer Sensorentwicklungen und Kooperationen der Piezocryst vorstellen zu können. So erschließen wir gemeinsam mit unseren neuen Partnern Virginia Beach Sensors und Hottinger Baldwin Messtechnik zwei gänzlich neue Anwendungsfelder in der Beschichtungs<wbr>technologie und der industriellen Kraftsensorik.

Kooperation bei piezoelektrischen Kraftsensoren

Piezocryst und HBM haben eine Entwicklungs- und Vertriebsallianz im Bereich piezoelektrischer Kraftsensoren zur industriellen Fertigungsüberwachung bekannt gegeben. In dieser Zusammenarbeit entwickelt und fertigt Piezocryst dynamische Kraftsensoren, die exklusiv unter dem HBM-Label vertrieben werden. Für den Kunden bietet diese Allianz den Vorteil, aus dem erweiterten Technologieportfolio eine maßgeschneiderte Komplettlösung "vom Aufnehmer bis zur Software" in bewährter HBM-Qualität auswählen zu können.

Neue Hochdrucksensoren

Die langfristige Kooperation der Unternehmen Piezocryst und HPI High Pressure Instrumentation hat zu einer vollständig neuen Gruppe von ballistischen Drucksensoren geführt. Die Sensoren wurden kürzlich in den Markt eingeführt und haben unter anderem bereits bei den Arbeitsgruppen der Nato breiten Anklang gefunden. Die neue Sensorgruppe besteht aus drei Sensoren, die Drücke von bis zu 2.000, 6.000 und 8.000 bar messen können. Sie verfügen über eine Kombination von Eigenschaften , die die bisher bestehenden Einschränkungen aufheben.

Miniaturisierte Spritzgusssensoren

Die bewährte Sensorfamilie der 2,5 und 4 mm Spritzgusssensoren wird um neue, weiter verkleinerte Sensoren mit 1,8 mm bzw. 2,5 mm Frontdurchmesser ergänzt. Diese Sensoren ermöglichen eine Instrumentierung an bisher unzugänglichen Einbaupositionen. Auch in diesen Dimensionen wurden die Sensoren mit einer Empfindlichkeitskennung und einer mechanischen Entkopplung von der Einbaubohrung ausgestattet.

Prozessüberwachung in der Dünnschichttechnik

Der Einsatz von Quarzresonatoren (häufig auch) zur Überwachung der Schichtdicken in Beschichtungsanlagen ist bereits seit den späten 60er Jahren Industrienorm. Die Dicke einer Metall- oder dielektrischen Schicht kann durch die Messung der Resonanzfrequenz eines oszilierenden Kristalls in einer Quarzmikrowaage (oft auch QCM genannt) mit einer Genauigkeit eines Ångströms gemessen werden. Dies hat sich als außerordentlich wertvolles Werkzeug zur Prozesskontrolle bei der Herstellung optischer und elektronischer Teile erwiesen.